ELAS Kft.

-CT opció: Micromex és Nanomex berendezésekhez elérhető
-Planar CT opció: Gyors és egyszerű 3D-s vizsgálati lehetőség, elsősorban összetett nyomtatott áramkörök vizsgálatára
-Flash! filter: Kontrasztkiemelés segítségével automata módon megjeleníti a röntgenképek fontos részleteit
-Dynamic41 detektorok: 2X-es felbontás ugyanannyi idő alatt, vagy 2-3X gyorsabb szkennelés minőségromlás nélkül a DXR detektorokhoz képest
-Diamond|window: Gyémánt target, melynek segítségével kisebb fókuszfolt (nagyobb felbontás) érhető el azonos teljesítmény mellett, a jó hővezetési tulajdonságai miatt.
-Helix|scan: Hosszabb alkatrészek, melyek egésze nem férne bele 1 felvételbe szkennelhető a segítségével a multiszkennél jobb minőségben. A szkennelés során a minta helikális mozgást végez.
-High-flux|target: 2X gyorsabb szkennelés azonos képminőséggel, vagy 2X-es felbontás ugyanannyi idő alatt.
-Scatter|correct: Vastag és nagy sűrűségű minták tökéletes és zajmentes vizsgálatához. Ezen technológia nagyban lerövidíti a CT vizsgálat idejét szemben a vonaldetektoros vizsgálatokkal szemben azonos képminőség mellett.
-Long-life|filament: Akár 10X-es élettartam a normál katódhoz képest
-Click & Measure|CT: Teljeskörű automata szkennelés és kiértékelés
-Fast|scan: A minta folyamatos forgatása közbeni CT-zés. A szkennelési idő drasztikusan csökkenthető a segítségével.
-Sector|scan: <360°-os forgatási szkennelési lehetőség, nagyobb minták, nagy felbontással történő CT vizsgálatához.
-Quick|pick: Automata mintamozgató rendszer